DFT/Scan 准入审查

When to use

当设计准备进入 scan insertion、ATPG 或 test wrapper 集成前使用。它帮助检查 test mode、clock/reset、memory、blackbox、low-power 与 DFT 约束是否准备充分。

Inputs

• RTL/netlist、test mode 定义、clock/reset 规划。
• scan chain 目标、memory BIST、wrapper 和 blackbox 清单。
• DFT 约束、ATPG 目标和历史问题。
• PnR/STA/CDC 相关限制。

Workflow

1. 建立 DFT 输入和模式清单。
2. 检查 test clock、reset、scan enable、bypass 和 isolation 关系。
3. 检查 memory/macro 是否有 BIST 或 blackbox 策略。
4. 检查低功耗域和 scan mode 是否冲突。
5. 输出 DFT blocker 和可测试性风险。
6. 给出 ATPG 前复核计划。

Outputs

• DFT readiness report。